X熒光光譜儀的對(duì)比

更新日期：2021-03-03 瀏覽量：2226

X射線熒光光譜儀：用于快速篩選電子電氣設(shè)備中的有害成分。

應(yīng)用于RoHS六種有害物質(zhì)，包括：鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價(jià)鉻Cr6+，多溴二苯醚BDE，多溴聯(lián)苯PBB，RoHS指令涉及的產(chǎn)品范圍相當(dāng)廣泛，幾乎涵蓋了所有電子、電器、醫(yī)療、通信、玩具、安防信息等產(chǎn)品，它不僅包括整機(jī)產(chǎn)品，而且包括生產(chǎn)整機(jī)所使用的零部件、原材料及包裝件，關(guān)系到整個(gè)生產(chǎn)鏈。
工作原理：
X-射線熒光光譜法，是用X-射線管發(fā)出的初級(jí)線束輻照樣品，激發(fā)各化學(xué)元素發(fā)出二次譜線(X-熒光)。波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF)是用X射線直接照射樣品發(fā)射X熒光，分光晶體將熒光光束色散后，測(cè)定各種元素的特征X-射線波長和強(qiáng)度，從而測(cè)定各種元素的含量;而普通能量色散型熒光光譜儀(ED-XRF)是通過濾光片得到背景相對(duì)較低的X射線，照射樣品發(fā)射X熒光，X熒光借助高分辨率敏感半導(dǎo)體檢測(cè)器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量進(jìn)行色散，根據(jù)各元素特征能量的強(qiáng)度高低來測(cè)定各元素的量;而偏振式能量色散X熒光光譜儀ED(P)-XRF是采用偏振次級(jí)靶，得到單色的X射線照射樣品，再X熒光借助高分辨率敏感半導(dǎo)體檢測(cè)器與多道分析器將未色散的X-射線按光子能量進(jìn)行色散，根據(jù)各元素特征能量的強(qiáng)度高低來測(cè)定各元素的量，這就大大提高了儀器的信噪比，提高了能譜儀分析輕元素的能力。

結(jié)構(gòu)功能：
1、波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF)，一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。為了準(zhǔn)確測(cè)量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體是安裝在一個(gè)精密的測(cè)角儀上，還需要一龐大而精密并復(fù)雜的機(jī)械運(yùn)動(dòng)裝置。由于晶體的衍射，造成強(qiáng)度的損失，需要作為光源的X射線管的功率要大，一般為2～3千瓦。但X射線管的效率極低，只有1%的電功率轉(zhuǎn)化為X射線輻射功率，大部分電能均轉(zhuǎn)化為熱能產(chǎn)生高溫，所以X射線管需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷)，這就使得儀器結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜，硬件成本高，因此波譜儀的價(jià)格比能譜儀要高的多。
2、普通能量色散型X-熒光光譜儀(ED-XRF)，一般由光源(X-射線管)、濾光片、樣品室和檢測(cè)系統(tǒng)等組成，與波長色散型X熒光光譜儀(WD-XRF)的區(qū)別在于它不用分光晶體，機(jī)構(gòu)比較簡單，價(jià)位比較低，但輕元素的檢出限較高。
3、偏振式能量色散X熒光光譜儀ED(P)-XRF，不采用濾光片，而采用偏振次級(jí)靶，其它與普通能量色散X熒光光譜儀(ED-XRF)相似，結(jié)構(gòu)也比較簡單，價(jià)位也遠(yuǎn)低于波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF)，但在輕元素的檢出限方面接近波長色散型熒光光譜儀(WD-XRF)。

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X熒光光譜儀的對(duì)比