新款Vanta iX在線X射線熒光（XRF）分析儀現(xiàn)已上市。

該分析儀可以對(duì)生產(chǎn)線上的產(chǎn)品進(jìn)行自動(dòng)材料分析和合金牌號(hào)辨別，并即時(shí)提供結(jié)果，從而可對(duì)生產(chǎn)過程進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，并對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行100%無遺漏檢測。

全天候，高效易用

Vanta iX可以全天時(shí)、全天候（24/7）運(yùn)行的分析儀，簡化了金屬制造和地質(zhì)選礦的質(zhì)量檢測過程。金屬制造過程需要受到全天時(shí)、全天候（24/7）的控制，以確保產(chǎn)品由正確的合金制造，避免出現(xiàn)代價(jià)高昂的材料混淆錯(cuò)誤。

Vanta iX分析儀可以在幾秒鐘內(nèi)提供明晰的材料成分和合金牌號(hào)信息，因此金屬制造商可以此證明他們的產(chǎn)品經(jīng)過了100%無遺漏檢測和驗(yàn)證。分析儀可提供通過/失敗結(jié)果，或完整的材料化學(xué)成分信息。在地質(zhì)選礦和采礦方面，分析儀可以對(duì)巖芯進(jìn)行掃查，對(duì)傳送帶上的礦石進(jìn)行分析，并提供實(shí)時(shí)結(jié)果，以監(jiān)控選礦和采礦過程中發(fā)生的變化，并確保礦石品位的一致性。

強(qiáng)大的性能

通過硅漂移探測器（SDD）和儀景通業(yè)已成熟的Axon技術(shù)，這款分析儀可以對(duì)包括輕元素在內(nèi)的多種金屬和合金進(jìn)行檢測和牌號(hào)辨別。這款分析儀具有與其他Vanta系列分析儀相同的高計(jì)數(shù)率和穩(wěn)定性。

智能整合傳輸

Vanta iX分析儀易于安裝在制造環(huán)境中：使用其兩側(cè)的安裝孔就可將其安裝到機(jī)器人或其他系統(tǒng)上。通過Vanta Connect API（應(yīng)用程序編程接口）或一個(gè)PLC（可編程邏輯控制器），并借助離散導(dǎo)線，可以輕松控制分析儀。連接器選項(xiàng)包括用于以太網(wǎng)供電的以太網(wǎng)(RJ-45)、USB、離散I/O（16針）和輔助DC電源。

堅(jiān)固，適合生產(chǎn)

這款分析儀通過了振動(dòng)測試（MIL-STD-810G），符合IP54評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，可在-10 °C至50 °C的溫度范圍內(nèi)連續(xù)工作，可以承受住生產(chǎn)設(shè)備的劇烈振動(dòng)、強(qiáng)烈的電磁噪聲和聲學(xué)噪音、灰塵和濕氣的侵?jǐn)_。內(nèi)置散熱器可以降低分析儀內(nèi)部的溫度，如果需要進(jìn)一步冷卻，還可以通過風(fēng)扇連接點(diǎn)連接一個(gè)風(fēng)扇。無需使用工具，就可以更換分析儀的窗口，從而實(shí)現(xiàn)快速維護(hù)的目標(biāo)。